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      顆粒度計數分析顯微鏡

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      徠卡Leica DM4000M 顆粒度計數分析顯微鏡

      支持多種國內及國際標準,包括ISO16232、ISO4406、ISO4407、NAS1638、VDA19等;支持用戶自定義評級標準。自動區分金屬和非金屬顆粒,可以對纖維進行統計,可測量顆粒高度。

      另外有經濟性顆粒度分析顯微鏡徠卡DMS1000供選擇

      功能和特點:

      1.自動智能顯微鏡,三軸XYZ電動,XY自動掃描,可對顆粒最大長度和寬度進行自動實時測量,不受顆粒大小限制;Z軸在掃描過程中自動對焦。三軸可實現對顆粒的長寬高的數據測量。掃描結束后,所有顆粒均完成坐標定位,可方便地隨時觀察單個顆粒。實時更新顯示測量過程中所測最大顆粒。

      2.清潔度專用光路,自動偏光光路,自動識別金屬顆粒、非金屬顆粒、纖維。

      3.全自動化光路,所有硬件參數均數字化,所有硬件參數均可自動記錄保存,方便調用,可100%精確實現同一測量條件重復性測量。所有測量參數包括光強、光闌、曝光時間、閥值、放大倍率等參數均自動記錄輸出在自動生成的清潔度專業報告中。

      4.一次掃描即可完成所有測量,測量速度快,節約時間成本,并可避免因為載物臺精度造成的像素偏移導致的測量結果偏差。


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